本文標題：" 微探針測試儀器簡介-試片之電性量測及驅動測試"
發布者：yiyi ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2013-4-23 11:11:49
儀器名稱 微探針測試平臺
功能
進行試片之電性量測及驅動測試。
規格
X ＆ Y 軸大位移量：25 mm。
注意事項
1. 移動平臺時，請確認探針皆已升起或移開試片表面后方可移動。
2. 移動平臺時，旋鈕不可轉動過快；大位移時，請直接移動試片
后一篇文章：合成和加工技術的不斷改進是非常重要的 »
前一篇文章：« 切割黃銅進料方向粗糙度達1.5mm-粗糙度測量顯微鏡
tags:試驗,顯微鏡廠商,技術,生物顯微鏡,精密儀器,
微探針測試儀器簡介-試片之電性量測及驅動測試,熒光顯微鏡現貨供應
本頁地址：http://m.020jingding.com/wz/640.html轉載注明
本站地址：http://m.020jingding.com/
http://www.xianweijing.org/
資訊中心：
延伸閱讀
- 切割黃銅進料方向粗糙度達1.5mm-粗糙度測量顯微鏡(2013-4-22 23:6:25)
- 模具的高速銑削時缺點就是會產生很高的溫度(2013-4-22 5:26:22)
- 亮面鋁輪圈機加工表面粗糙度約在Ra 0.1~0.2(2013-4-22 1:16:16)
- 使用金相顯微鏡觀察金屬板材成形制程顯微結構(2013-4-21 5:31:52)