本文標題："電子顯微鏡廣泛地應(yīng)用在物理化學(xué)等研究領(lǐng)域"
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X光吸收光譜分析
同步輻射是一種光源，其本質(zhì)與傳統(tǒng)之X光相同，均為電磁波，它的產(chǎn)生是由電子束在光速下進行圓周運動而發(fā)射出來的。
其產(chǎn)生之高亮度X光(或UV光)，已被廣泛地應(yīng)用在物理化學(xué)等各研究領(lǐng)域上。
利用同步輻射光源對材料進行X光吸收光譜研究，主要包括X光近緣結(jié)構(gòu)(X-rayAbsorption Near-Edge Structure，簡稱為XANES)
及延伸X光吸收精細結(jié)構(gòu)(Extended X-ray Absorption Fine Structure，簡稱為EXAFS)。
其中XANES可以用來檢測材料中特定原子之電子組態(tài)，而EXAFS可被用來測定原子之區(qū)域結(jié)構(gòu)(Local Structure)，
得知原子與其鄰近原子間之距離、種類及數(shù)目等。X光吸收光譜可發(fā)揮其在原子短程結(jié)構(gòu)及電子組
態(tài)上之優(yōu)點，與傳統(tǒng)XRD長程有序分析及TEM等結(jié)果相互配合，可使我們更加了解奈米材料之結(jié)構(gòu)特性
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