本文標(biāo)題："萬能工具顯微鏡頂尖測量盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量"

萬能工具顯微鏡頂尖測量盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量

什么叫阿貝原則?舉例說明之。

阿貝原則是:“測件與標(biāo)準(zhǔn)件必須配置在測量方向的同一直

線上，即測量的標(biāo)準(zhǔn)件應(yīng)安置在被測長度的延長線上。這是計

量技術(shù)的一條基本原則。測量裝置由于量具量儀制造或裝配不

良(導(dǎo)軌不直、不平行、滾珠不圓等)而產(chǎn)生軸線傾斜。如果

量具量儀的設(shè)計是符合阿貝原則的，那么傾斜引起的測量誤差

以二次方誤差出現(xiàn)，一般可以忽略不計。如果量具量儀設(shè)計不

符合阿貝原則，則由傾斜而引起的測量誤差是以一次方形式出

現(xiàn)，誤差較大，不能忽略。因此，在量具量儀設(shè)計時應(yīng)盡量考

慮遵守“阿貝原則”，否則必須對其所產(chǎn)生的誤差(一般為系統(tǒng)

誤差)進行分析或采用其他措施補償這些誤差。

符合阿貝原則的量具量儀有:深度游標(biāo)卡尺、萬能測長機、

阿貝比長儀等。不符合的有:游標(biāo)卡尺、游標(biāo)高度尺、萬?能?工?具?顯?微?鏡等。

游標(biāo)卡尺不符合阿貝原則，因此在測量時應(yīng)將被測零件盡可能靠近刻尺處;

萬能工具顯微鏡縱向平面不符合阿貝原則，因此在頂尖測量時，

應(yīng)盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量(如測螺紋的螺距等)。

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萬能工具顯微鏡頂尖測量盡可能在靠近刻尺的一邊進行測量,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)