TG128雙盤機械天平可供工礦企業(yè)、科研機構(gòu)、高等院校實驗室、化驗室作精密衡量分析之用。

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　　1、型電磁力傳感器2、防震，稱量速度可調(diào)3、動零位跟蹤可調(diào)4、量程范圍去皮5、態(tài)溫度補償6、下稱吊鉤7、熒光顯示8、報警功能9、載保護(hù)10、RS232接口11、司、克拉等單位轉(zhuǎn)換12、五面玻璃防風(fēng)罩，體積大視野清晰

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　　1、大型電磁力傳感器2、四級防震，稱量速度可調(diào)3、顯示方式可調(diào)4、自動零位跟蹤可調(diào)5、自動校準(zhǔn)6、全量程范圍去皮7、動態(tài)溫度補償8、自動故障診斷9、內(nèi)置下稱吊鉤10、柔和背光液晶顯示11、過載保護(hù)12、內(nèi)置RS232接口13、克、盎司、克拉等單位轉(zhuǎn)換14、計件、百分比稱量

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　　測定透明、半透明液體或者固體的折射率和濃度，通過精密光電測量的辦法，并結(jié)合微處理技術(shù)，可直接將測量數(shù)據(jù)顯示在液晶顯示器上。它是石油工業(yè)、油脂、食品工業(yè)、日用化學(xué)、制糖工業(yè)和地質(zhì)勘查等有關(guān)企業(yè)、科研、教學(xué)部門不可缺少的常用儀器之一。

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　　阿貝折射儀2WAJ能測定透明、半透明液體或固體的折射率ND和平均色散NF-NC的儀器。儀器上接有恒溫器，則可測定溫度為0℃~70℃內(nèi)的折射率ND，并能測出糖溶液內(nèi)含糖量濃度的百分?jǐn)?shù)從0-95%（相當(dāng)于折射率為1.333-1.531）。

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　　9W測微光度計.主要用途是對各種攝譜儀所攝下之譜片進(jìn)行黑度測量，以確定被測元素的含量完成光譜的定量分析工作。還可于照相膜層之密度檢查和感光能力檢查。以及配合其它光學(xué)儀器作象差測量等。

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　　8W光譜投影儀為攝譜儀成套設(shè)備之一，主要用于對攝譜儀所攝下之光譜底板通過投影放大，與標(biāo)準(zhǔn)譜板或已知濃度的光譜進(jìn)行定性或半定量分析。也可作為一般投影放大用．

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　　數(shù)字自動旋光儀WZZ-2S是測定物質(zhì)旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測定，可以確定樣品的濃度、純度、糖度或含量。廣泛用于制糖、制藥、藥檢、食品、香料、味精以及化工、石油等工業(yè)生產(chǎn)、科研、教學(xué)部門，作化驗分析或過程質(zhì)量控制。

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　　數(shù)字自動旋光儀WZZ-1S是測定物質(zhì)旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測定，可以確定樣品的濃度、純度、糖度或含量。廣泛用于制糖、制藥、藥檢、食品、香料、味精以及化工、石油等工業(yè)生產(chǎn)、科研、教學(xué)部門，作化驗分析或過程質(zhì)量控制

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　　WXG-4圓盤旋光儀是測定物質(zhì)旋光度的儀器。通過對樣品旋光度的測定，可以確定樣品的濃度、純度、糖度或含量。WXG-4圓盤旋光儀用于制糖、制藥、藥檢、食品、香料、味精以及化工、石油等工業(yè)生產(chǎn)、科研、教學(xué)部門，作化驗分析或過程質(zhì)量控制。

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　　CPJ系列數(shù)字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。儀器光學(xué)質(zhì)量優(yōu)良，物鏡成清晰，放大倍率準(zhǔn)確。在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%。

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　　CPJ系列數(shù)字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。本儀器能高效率的檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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　　CPJ系列數(shù)字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。本儀器能高效率的檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。

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　　全自動三坐標(biāo)測量機又稱三次元采用移動橋式結(jié)構(gòu),顯著的提高了運動性能.全花崗石工作臺.道軌.橫梁和Z軸,具有相同的溫度特性和剛性,并通過有限元分析,動態(tài)特性分析.從而使整機具有了高的穩(wěn)定性和可靠性。

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　　CMS-554M三座標(biāo)測量機能實現(xiàn)空間坐標(biāo)點位的測量。方便的測量出各種零件的三維輪廓尺寸，形狀及位置精度。它是集光，機，電，算于一體的精密測量儀器。它廣泛的應(yīng)用于機械制造，電子，汽車和航空航天等工業(yè)中。

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　　1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動性的特性。

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　　干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。

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　　顯微鏡9J是以光切測量另件加工表面的微觀不平度。其能判國家標(biāo)準(zhǔn)GB1031-68所規(guī)定▽3-▽9級表面光潔度。（表面粗糙度12.5-0.2）對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進(jìn)行測量。

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　　機械比較儀適用于測量工件的幾何尺寸和形位偏差，特別是檢定工件的跳動量，并可用比較法測量長度。比較儀儀校驗臺是機械比較儀用的校驗臺架，與量塊配合使用可測定比較儀的示值變動性等性能指標(biāo)。

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　　數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S1是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面

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